準(zhǔn)確定位與掃描：納米位移臺(tái)探針
納米位移臺(tái)探針通常指的是用于掃描探測物體表面形貌、化學(xué)成分等信息的微型探頭。在掃描探測過程中，探針與樣品表面之間會(huì)存在一定的作用力，探針的形狀、尺寸和材料都會(huì)對(duì)探測結(jié)果產(chǎn)生影響。常用的探針包括原子力顯微鏡（AFM）探針、掃描電子顯微鏡（SEM）探針等。
納米位移臺(tái)使用探針可以獲得高分辨率的表面形態(tài)和性質(zhì)信息，因此被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究和應(yīng)用中。例如，在材料科學(xué)領(lǐng)域，可以使用納米位移臺(tái)探針來研究材料的表面結(jié)構(gòu)、形貌、力學(xué)和電學(xué)性質(zhì)；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，可以使用納米位移臺(tái)探針來研究細(xì)胞、蛋白質(zhì)和DNA的形態(tài)、力學(xué)和電學(xué)性質(zhì)。
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