如何判斷納米位移臺(tái)是否需要重新校準(zhǔn)？
判斷納米位移臺(tái)是否需要重新校準(zhǔn)，通?？梢詮囊韵聨讉€(gè)方面入手：
1. 定位精度出現(xiàn)下降
如果你發(fā)現(xiàn)以下現(xiàn)象，可能說明校準(zhǔn)已經(jīng)偏離標(biāo)準(zhǔn)：
位移臺(tái)移動(dòng)到某一預(yù)設(shè)坐標(biāo)點(diǎn)后，實(shí)際位置偏差超出規(guī)格要求（比如超過納米級(jí)誤差容限）；
多次移動(dòng)到同一點(diǎn)，重復(fù)定位的偏差變大；
掃描圖像出現(xiàn)明顯錯(cuò)位或畸變，尤其在大范圍掃描或多次返回同一位置時(shí)。
2. 反饋位置與實(shí)際位置不符
當(dāng)使用閉環(huán)傳感器（如電容傳感器、光學(xué)編碼器）進(jìn)行反饋控制時(shí)，如果控制軟件顯示的位置與顯微鏡、干涉儀等實(shí)際觀測(cè)位置不一致，說明可能需要重新校準(zhǔn)。
3. 環(huán)境或系統(tǒng)發(fā)生變化
下列情況發(fā)生后建議進(jìn)行校準(zhǔn)：
位移臺(tái)長(zhǎng)期未使用或經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行；
系統(tǒng)經(jīng)歷過搬運(yùn)、震動(dòng)、溫度變化、潮濕等外界干擾；
更換了控制器、傳感器或樣品托盤；
固件或軟件升級(jí)之后，位移模型發(fā)生變化。
4. 系統(tǒng)自檢提示或誤差累積
有些控制系統(tǒng)（如使用數(shù)字信號(hào)處理器的控制器）會(huì)在初始化或運(yùn)行中提供自檢誤差報(bào)告或校準(zhǔn)建議；
如果你運(yùn)行定位路徑后，累計(jì)誤差隨路徑延長(zhǎng)而變大，也可能是因?yàn)榫€性比例、偏移、非線性補(bǔ)償失效，需要重新標(biāo)定。
5. 定期維護(hù)計(jì)劃中規(guī)定的周期
高精度位移系統(tǒng)一般建議定期校準(zhǔn)（例如每半年或一年一次），尤其在對(duì)結(jié)果精度有嚴(yán)格要求的應(yīng)用場(chǎng)景（如納米定位、掃描成像、微納加工等）中更為重要。